AFM se referă la microscopia Forței Atomice, iar STM se referă la microscopia tunelului de scanare. Dezvoltarea acestor două microscoape este considerată o revoluție în câmpurile atomice și moleculare.

Când vine vorba de AFM, este nevoie de imagini precise prin plasarea unui vârf de dimensiune nanometru pe suprafața imaginii. Fotografii STM folosind un tunel cuantic.

Primul dintre cele două microscopuri a fost microscopul de scanare.

Spre deosebire de STM, sonda interacționează direct cu suprafața sau calculează legătura chimică care intră în AFM. Imaginile STM sunt efectuate indirect, calculând determinarea nivelului cuantic între acel test și eșantion.

O altă diferență care poate fi observată este că vârful din AFM atinge suprafața, în timp ce vârful în STM este păstrat la o distanță scurtă de sol.

Spre deosebire de STM, AFM nu măsoară debitul tunelului, măsurând doar forța mică dintre suprafață și vârf.

S-a constatat, de asemenea, că dimensiunile AFM erau mai bune decât STM-urile. Prin urmare, AFM este utilizat pe scară largă în nano-tehnologie. Vorbind despre relația dintre forță și distanță, AFM este mai complex decât STM.

Scanarea la microscop de tunelare este folosită în mod obișnuit cu conductorii, în timp ce microscopia cu forță atomică este utilizată atât în ​​conductoare cât și în izolatori. AFM este bine adaptat mediilor lichide și gazoase, iar STM funcționează numai în vid mare.

În comparație cu STM, AFM oferă un contrast topografic mai bun cu măsurători directe de înălțime și caracteristici mai bune ale suprafeței.

concluzie

1. AFM surprinde imagini de precizie mutând vârful dimensiunii nanometrului pe suprafața imaginii. Fotografii STM folosind tuneluri cuantice.

2. Sonda comunică direct cu suprafața sau calculează legătura chimică care intră la AFM. Imaginile STM sunt efectuate indirect, calculând determinarea nivelului cuantic între acel test și eșantion.

3. Vârful AFM atinge suprafața, iar STM este păstrat la o distanță scurtă de suprafață.

4. Rezoluția AFM este mai bună decât STM. Prin urmare, AFM este utilizat pe scară largă în nano-tehnologie.

5. Scanarea la microscop de tunelare este de obicei aplicată la conductoare, iar microscopia cu forță atomică este utilizată atât în ​​conductoare cât și în izolatori.

6. AFM este potrivit pentru mediile lichide și gazoase, iar STM funcționează numai în vid mare.

7. Microscopul de tunelare de scanare a fost primul dintre cele două microscopuri.

REFERINȚE